|
|
|---|
- SINTEZA NOVIH NANOMATERIALOV
- PROCESIRANJE
- Opticna nanolitografija
- Janus
- Brezprasna komora
- Minimizacija mehanskih vibracij
- Utekocinjevalnik He
- Elektrometer
- ALD
- Oprema za ciscenje substratov
- Oprema za procesiranje in karakterizacijo nanodelcev
- FIB
- Priprava suspenzij
- Termična obdelava tankih filomov
- Karakterizacija lastnosti
- Suha komora
- Ink-jet printer za keramicne sole
- RTA
- Suha komora 2
- Elektronska nanolitografija
- KARAKTERIZACIJA
- Transmisijski elektronski mikroskop - TEM
- SEM
- SEM poljska emisija
- STM
- SPFEM
- Mikroskop na atomsko silo - AFM
- Polarizacijski mikroskop
- TG/DTA/DSC
- LA-ICP-MS
- Sistem za analizo elektronskih lastnosti
- Difraktometer
- Analizator lomnega kolicnika
- Reflektometer
- Merilec mehanskih lastnosti nanovlaken
- Magnetometer
- Merjenje elektricnih lastnosti
- NMR STM
- LT STM
- MAC Imode
- Lock-in ojacevalec
- PicoTrec
- HarmoniX
- RAMAN-AFM mikroskop
- Konfokalni mikroskop LEICA TCS SP5 X
- Nadgradnja proteomike
- Elipsometer
- 4-probe STM UHV sistem
- Nizkotemperaturna merilna postaja
- Nizkotemperaturna merilna postaja z navpicnim magnetnim poljem
- Superprevodni magnet z optičnim kriostatom
- Nano Scratch Tester
- Standard Tribometer
- Reometer Physica MCR 301
- Opticni mikroskop Olympus BX51
- Zetasizer Nano ZS
- Zetasizer Nano ZEN 3600
- TGA/DTA/EGA
- HR SEM
- Masni spektrometer
- FE SEM SUPRA 32 VP
- MODELIRANJE
Zadnje novice
Pregled opreme, ki smo jo pridobili v letu 2011..............................................................
Med 17. in 18. novembrom 2011 je na Brdu pri Kranju potekala konferenca z naslovom Sedanjost in prihodnost centrov odličnosti.
Mednarodna konferenca SLONANO 2011 je potekala med 26. in 28.10.2011 na Inštitutu Jožef Stefan.
Partnerji
-
© 2010 Center odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije – Nanocenter, Ljubljana |
 |