🔬 Spletna delavnica o fokusiranem ionskem curku (FIB)!
Pridružite se spletni delavnici CC Chip.si o fokusiranem ionskem curku (FIB), ki bo potekala 6. oktobra 2026 ob 9.00 (CEST).
Interaktivna delavnica bo vsebovala na naslednje teme:
🔹 zmogljivosti FIB ter osnove SEM/FIB
🔹 analizo prečnih prerezov in raziskovanje napak na čipih
🔹 nanašanje materialov in jedkanje s FIB
🔹 3D tomografijo in elektronsko-litografijo
🔹 izdelavo TEM lamel
🔹 praktične demonstracije, aplikacije in omejitve tehnologije FIB
💡 Zakaj je ta delavnica posebna?
Delavnica je interaktivna. Udeleženci lahko postavljajo vprašanja in izvajalca delavnice prosijo za praktično demonstracijo postopkov in aplikacij FIB, ki so zanje najbolj zanimive.
📅 6. oktober 2026 | 09.00 CEST
💻 Spletno preko Zooma
📝 Rok za prijavo: 1. oktober 2026
🆓 Udeležba je brezplačna
Ne glede na to, ali že delate z elektronsko mikroskopijo ali pa želite bolje spoznati možnosti, ki jih ponujata SEM in FIB, je delavnica odlična priložnost za pridobivanje praktičnega znanja.
👉 Prijavite se zdaj: CC Chip.si – Spletna delavnica o FIB
Organizator: CC Chip.si v sodelovanju z Nanocentrom.