Balder
  • Domov
  • Storitve
  • Rezervacije
  • Dogodki
  • O nas
  • Novice
  • Interni Blog

   

  • SINTEZA NOVIH NANOMATERIALOV
    • Pulzna laserska depozicija PLD
    • MBE
    • Ostala oprema
      • Visokotemperaturna pec
      • Avtoklav
      • Visokotlacni avtoklav
    • Empyrean diffractometer
  • KARAKTERIZACIJA
    • Transmisijski elektronski mikroskop - TEM
    • Mikroskop na atomsko silo - AFM
    • Magnetometer
    • NMR STM
    • LT STM
    • RAMAN-AFM mikroskop
    • Konfokalni mikroskop LEICA TCS SP5 X
    • Elipsometer
    • 4-probe STM UHV sistem
    • Nizkotemperaturna merilna postaja
    • Nizkotemperaturna merilna postaja z navpicnim magnetnim poljem
    • Superprevodni magnet z optičnim kriostatom
    • Nano Scratch Tester
    • Standard Tribometer
    • Reometer Physica MCR 301
    • Zetasizer Nano ZEN 3600
    • Akustični in elektroakustični spektrometer DT1200
    • MiniFlexll XRD
    • Ostala oprema
      • Opticni mikroskop Olympus BX51
      • Xenon komora Xe-3-Hs
      • SEM
      • SEM poljska emisija
      • STM
      • Polarizacijski mikroskop
      • Sistem za analizo elektronskih lastnosti
      • Difraktometer
      • Merilec mehanskih lastnosti nanovlaken
      • MAC Imode
      • Lock-in ojacevalec
      • PicoTrec
      • Nadgradnja proteomike
      • TGA/DTA/EGA
      • HR SEM
      • Masni spektrometer
      • FE SEM SUPRA 32 VP
      • HarmoniX
      • Merjenje elektricnih lastnosti
  • PROCESIRANJE
    • Opticna nanolitografija
    • ALD
    • Oprema za procesiranje in karakterizacijo nanodelcev
    • FIB
    • Karakterizacija lastnosti
    • Suha komora MB200MOD
    • Ink-jet printer za keramicne sole
    • Elektronska nanolitografija
    • Ostala oprema
      • Elektrometer
      • Janus
      • Brezprasna komora
      • RTA
      • Minimizacija mehanskih vibracij
      • Minimizacija mehanskih vibracij
  • MODELIRANJE
    • Racunalniska oprema
  • SEZNAM OPREME
  • TRAINING
  • FAQ



Transmisijski elektronski mikroskop - TEM

Transmisijski elektronski mikroskop - TEM
Oprema je bila sofinancirana iz sredstev EU (ESRR skladi) v operaciji Center odličnosti nanoznanost in nanotehnologije 2004 - 2006

Oprema je na voljo za uporabo.


Raziskave nanomaterialov in razvoj nanotehnologije sta prednostni panogi v vseh modernih družbah. Vse več je v uporabi materialov, ki nekaj let nazaj še niso bili znani. Njihov razvoj in vpeljavo v industrijsko proizvodnjo pa so v prvi meri omogočile temeljite raziskave in poznavanje zveze med lastnostmi materialov ter njihovo atomsko oziroma kristalno strukturo. Lastnosti materialov so običajno odvisne od parametrov, kot so velikost in razporeditev kristalnih zrn, defekti v zrnih, vključki drugih faz v zrnih ali na mejah med zrni. Za razumevanje vpliva the parametrov na lastnosti materialov pa je potrebno poznavanje strukture in kemijske sestave v tako majhnih področjih, ki merijo le nekaj nanometrov. Edina naprava, ki omogoča dobiti te podatke je transmisijski elektronski mikroskop (TEM).

Odgovorna oseba: dr. Miran Čeh, Tel.: 01 477 3341, miran.ceh@ijs.si
Lokacija opreme
: Center za elektronsko mikroskopijo, Institut Jožef Stefan, Jamova 39, Ljubljana

Dostopnost opreme: Oprema je dostopna vse dni v tednu.
Zahtevana znanja:
Pred prvo uporabo je obvezno šolanje. Program šolanja.
Šolanje je plačljivo in ga organizira Mednarodna podiplomska šola. Prijava: pošljite ime kandidata, naziv in podatke o plačniku (naziv, naslov, davčna številka) na elektronski naslov.

Rezervacije:
termin rezervirate v rezervacijskem sistemu
TEM je oprema, pri kateri velja pravilo, da se mora uporabnik vpisati tudi v ročno evidenco (podatki uporabnika, datum uporabe ter čas pričetka in zaključka uporabe), ki je na voljo ob opremi.

 

 


Partnerji

Balder Cetis Cinkarna ETA UNIVERZA V LJUBLJANI Gorenje Mednarodna podiplomska šola Jožefa Stefana - MPŠ LPKF SH kolektor HELIOS  Institut "Jozef Stefan" Kemijski inštitut Ljubljana

© 2010 Center odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije – Nanocenter, Ljubljana

Evropski sklad