|
|
|---|
- SINTEZA NOVIH NANOMATERIALOV
- PROCESIRANJE
- Opticna nanolitografija
- AFM
- Janus
- Brezprasna komora
- Minimizacija mehanskih vibracij
- Utekocinjevalnik He
- RTP
- ALD
- Oprema za ciscenje substratov
- Oprema za procesiranje in karakterizacijo nanodelcev
- FIB
- Priprava suspenzij
- Termična obdelava tankih filomov
- Karakterizacija lastnosti
- Suha komora
- Ink-jet printer za keramicne sole
- RTA
- Suha komora 2
- Elektronska nanolitografija
- KARAKTERIZACIJA
- TEM
- SEM
- SEM poljska emisija
- STM
- SPFEM
- AFM
- Polarizacijski mikroskop
- TG/DTA/DSC
- LA-ICP-MS
- Sistem za analizo elektronskih lastnosti
- Difraktometer
- Analizator lomnega kolicnika
- Reflektometer
- Merilec mehanskih lastnosti nanovlaken
- Magnetometer
- Merjenje električnih lastnosti
- NMR STM
- LT STM
- MAC Imode
- Lock-in ojacevalec
- PicoTrec
- HarmoniX
- RAMAN-FTIR mikroskop
- Fluoroscentni mikroskop
- Nadgradnja proteomike
- Elipsometer
- STM UHV
- Probestation merilnik
- UHV nanomanipulator
- Magnet za opticne meritve
- Merilna postaja
- Nano Scratch
- Standard Tribometer
- Reometer Physica MCR 501
- Processor Tensiometer K100MK2
- Zetasizer Nano ZS
- Zetasizer Nano ZEN 3600
- TGA/DTA/EGA
- HR SEM
- Masni spektrometer
- FE SEM SUPRA 32 VP
- MODELIRANJE
Zadnje novice
04/07/2010V sredo, 7.7.2010 je potekalo strokovno srecanje vseh CO z ministrom Gregorjem Golobicem.
03/06/2010
Najavljamo mednarodno konferenco SLONANO 2010.
16/05/2010V sredo, 7.7. 2010 je minister za visoko šolstvo, znanost in tehnologijo Gregor Golobič obiskal CO Nanocenter.
_________________________________
Partnerji
-
© 2010 Center odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije – Nanocenter, Ljubljana |
 |