Balder
  • Domov
  • Storitve
  • Rezervacije
  • Dogodki
  • O nas
  • Novice
  • Interni Blog

   

  • SINTEZA NOVIH NANOMATERIALOV
    • Pulzna laserska depozicija PLD
    • MBE
    • Ostala oprema
      • Visokotemperaturna pec
      • Avtoklav
      • Visokotlacni avtoklav
    • Empyrean diffractometer
  • KARAKTERIZACIJA
    • Transmisijski elektronski mikroskop - TEM
    • Mikroskop na atomsko silo - AFM
    • Magnetometer
    • NMR STM
    • LT STM
    • RAMAN-AFM mikroskop
    • Konfokalni mikroskop LEICA TCS SP5 X
    • Elipsometer
    • 4-probe STM UHV sistem
    • Nizkotemperaturna merilna postaja
    • Nizkotemperaturna merilna postaja z navpicnim magnetnim poljem
    • Superprevodni magnet z optičnim kriostatom
    • Nano Scratch Tester
    • Standard Tribometer
    • Reometer Physica MCR 301
    • Zetasizer Nano ZEN 3600
    • Akustični in elektroakustični spektrometer DT1200
    • MiniFlexll XRD
    • Ostala oprema
      • Opticni mikroskop Olympus BX51
      • Xenon komora Xe-3-Hs
      • SEM
      • SEM poljska emisija
      • STM
      • Polarizacijski mikroskop
      • Sistem za analizo elektronskih lastnosti
      • Difraktometer
      • Merilec mehanskih lastnosti nanovlaken
      • MAC Imode
      • Lock-in ojacevalec
      • PicoTrec
      • Nadgradnja proteomike
      • TGA/DTA/EGA
      • HR SEM
      • Masni spektrometer
      • FE SEM SUPRA 32 VP
      • HarmoniX
      • Merjenje elektricnih lastnosti
  • PROCESIRANJE
    • Opticna nanolitografija
    • ALD
    • Oprema za procesiranje in karakterizacijo nanodelcev
    • FIB
    • Karakterizacija lastnosti
    • Suha komora MB200MOD
    • Ink-jet printer za keramicne sole
    • Elektronska nanolitografija
    • Ostala oprema
      • Elektrometer
      • Janus
      • Brezprasna komora
      • RTA
      • Minimizacija mehanskih vibracij
      • Minimizacija mehanskih vibracij
  • MODELIRANJE
    • Racunalniska oprema
  • SEZNAM OPREME
  • TRAINING
  • FAQ



FE SEM SUPRA 32 VP

Oprema je bila sofinancirana iz sredstev EU (ESRR skladi) v operaciji Center odličnosti nanoznanost in nanotehnologije 2004 - 2006.

Field emission scanning electron microscope equipped with energy dispersice spectroscopy Inca 400.

Kontakt: gregor.kapun@ki.si


Partnerji

Balder Cetis Cinkarna ETA UNIVERZA V LJUBLJANI Gorenje Mednarodna podiplomska šola Jožefa Stefana - MPŠ LPKF SH kolektor HELIOS  Institut "Jozef Stefan" Kemijski inštitut Ljubljana

© 2010 Center odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije – Nanocenter, Ljubljana

Evropski sklad